測試項目: 高溫試驗(高溫啟動、高溫貯存、高溫工作、高溫老化...)、低溫試驗(低溫啟動、低溫貯存、低溫工作...)、冷熱沖擊試驗(溫度沖擊試驗)、交變濕熱試驗、溫濕度組合循環(huán)測試、快速溫變試驗、恒溫恒濕試驗等 溫濕度試驗適用于各類電子、電工、電器、塑膠、金屬、化學、建材、車輛、通訊、光纖、LED、液晶屏、儀表儀器、元器件、電路板、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的在環(huán)境下儲存、運輸和使用的適應性,安全性,持久性等。
測試標準參考:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A: 低溫;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B: 高溫;
GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Cab:恒定濕熱試驗;
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Db:交變濕熱(12h+12h 循環(huán));
GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化;
GB/T 2423.34-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗Z/AD: 溫度/濕度組合循環(huán)試驗;
IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫;
IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫;
IEC 60068-2-78:2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗;
IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Db:交變濕熱(12h+12h 循環(huán));
IEC 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化;
IEC 60068-2-38:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗Z/AD: 溫度/濕度組合循環(huán)試驗;
我們秉承科學嚴謹?shù)墓ぷ鲬B(tài)度,以客戶為中心,高效統(tǒng)籌安排測試計劃,竭力縮短測試時間的周期,為客戶提供快捷、公正的第三方咨詢檢測等服務。服務區(qū)域遍布廣東廣州、深圳、東莞、佛山、中山、珠海、清遠、惠州、茂名、揭陽、梅州、江門、肇慶、汕頭、潮州、河源、韶關及全國各地如您有相關產(chǎn)品需要咨詢,歡迎您直接來電咨詢我司工作人員,獲得詳細的費用報價與周期方案等信息,深圳訊科期待您的光臨!
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