溫度沖擊循環(huán)測(cè)試報(bào)告辦理要求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的

　　確定元件經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力，避免產(chǎn)品因環(huán)境而失效。

　　超級(jí)電容溫度循環(huán)試驗(yàn)

　　溫度沖擊循環(huán)試驗(yàn)環(huán)境

　　溫度：25℃±5℃

　　濕度：25%~85%

　　大氣壓力：86KPa~106KPa

　　溫度沖擊循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T34870.1 超級(jí)電容 第1部分：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

　　IEC62391-1 電子及電氣設(shè)備用固定式雙層電容器 第1部分：總規(guī)范

1、溫度沖擊的試驗(yàn)?zāi)康募皹?biāo)準(zhǔn)：
溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕動(dòng)及疲勞損傷引起的失效，在較短的時(shí)間內(nèi)確認(rèn)產(chǎn)品特性的變化。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。常見的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T 2423.22、ASTM D7437-07、IEC 60068-2-14、GJB 150.5等

2、溫度沖擊測(cè)試應(yīng)用范圍：
用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學(xué)校、工廠、jungong等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

3、溫度沖擊試驗(yàn)具體流程：

常見方式：高溫轉(zhuǎn)低溫、低溫轉(zhuǎn)高溫、高溫轉(zhuǎn)常溫轉(zhuǎn)低溫、低溫轉(zhuǎn)常溫轉(zhuǎn)高溫

溫度范圍：-75℃～200℃，高溫設(shè)定范圍：+60℃～+200℃，低溫設(shè)定范圍：0℃～-75℃ 。測(cè)試完成后，產(chǎn)品通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀和結(jié)構(gòu)正常。

試驗(yàn)時(shí)間：根據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境不同，試驗(yàn)時(shí)間可以采用短周期、中等周期或長(zhǎng)周期。短周期測(cè)試一般在10個(gè)循環(huán)內(nèi)完成，中等周期測(cè)試在50到200個(gè)循環(huán)，長(zhǎng)周期測(cè)試在500到1000個(gè)循環(huán)。

循環(huán)時(shí)間：每個(gè)循環(huán)時(shí)間可以根據(jù)不同試驗(yàn)要求進(jìn)行調(diào)整，通常建議不超過(guò)30分鐘。

恢復(fù)時(shí)間：在溫度沖擊測(cè)試的過(guò)程中，產(chǎn)品經(jīng)過(guò)極端環(huán)境的暴露和冷卻，通常建議不超過(guò)30分鐘。

冷卻方法：測(cè)試過(guò)程中，冷卻方法會(huì)影響測(cè)試的結(jié)果，因此應(yīng)按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行正常速度的冷卻。