絕緣阻抗(IR)測(cè)試是什么?

絕緣阻抗(IR)測(cè)試是什么?

絕緣電阻測(cè)試和耐壓測(cè)試非常相似。把最高達(dá)1000V的DC電壓施加到需要測(cè)試的兩點(diǎn)。IR測(cè)試給出的通常是以兆歐為單位的電阻值，而不是耐壓測(cè)試得出的Pass / Fail表示。一般典型的是，測(cè)試電壓為500V 直流，絕緣電阻(IR)的值不得低于幾兆歐。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。

耐壓測(cè)試與絕緣電阻測(cè)試之間有什么不同呢?

IR測(cè)試是一種定性測(cè)試，它給出絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果用兆歐電阻來(lái)量測(cè)。耐壓測(cè)試也給被測(cè)物(DUT)施加高壓，但所加電壓比IR 測(cè)試的高。其可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果用毫安培或微安來(lái)量測(cè)。在有些規(guī)格中，先進(jìn)行IR測(cè)試，接著再進(jìn)行耐壓測(cè)試。如果一個(gè)被測(cè)物(DUT)無(wú)法通過(guò)IR測(cè)試，則此被測(cè)物(DUT)也無(wú)法通過(guò)在更高的電壓下進(jìn)行的耐壓測(cè)試。

耐壓測(cè)試與電源泄漏測(cè)試測(cè)出的泄漏電流兩者有什么不同呢?

耐壓測(cè)試與電源泄漏測(cè)試之間是有一些差異，但一般而言, 這些差別可被概括如下。耐壓測(cè)試是利用高電壓對(duì)產(chǎn)品的絕緣加壓以確定是否產(chǎn)品的絕緣強(qiáng)度足夠防止過(guò)量的泄漏電流。泄漏電流測(cè)試是量測(cè)產(chǎn)品在使用下，在正常和電源單一故障狀態(tài)下所流經(jīng)產(chǎn)品的泄漏電流量。