GB/T 41423-2022 LED封裝 長(zhǎng)期光通量和輻射通量維持率的推算！

《GB/T 41423-2022 LED封裝 長(zhǎng)期光通量和輻射通量維持率的推算》文件由中國(guó)輕工立聯(lián)合會(huì)提出，由全國(guó)照明電器標(biāo)準(zhǔn)化技木委員會(huì)(SAC/TC 224)歸口，文件于2022-4-15發(fā)布，2022-11-1實(shí)施；等同采用IEC 63013:2017《LED封裝 長(zhǎng)期光通量和輻射通量維持率的推算》，引用IEC 62504、ANSI/IES TM-21-19、ANSI/IES LM-80-20。

標(biāo)準(zhǔn)范圍

本文件規(guī)定了LED封裝的光通量維持率的測(cè)試程序和條件。本文件還提供了根據(jù)收集到的有限的光通量維持率測(cè)試數(shù)據(jù)來推算光通量長(zhǎng)期維持率的程序和條件(準(zhǔn)則)。本文件同樣適用于輻射通量和光量子通量長(zhǎng)期維持的推算；適用于普通照明和植物光照用LED封裝。

本文件中的推算方法所使用的測(cè)試數(shù)據(jù)，按照ANSI/IES LM-80-20(LM-80)的方法收集所得。長(zhǎng)期維持的推算程序基于ANSI/IES TM-21-19(TM-21)中的指數(shù)似合函數(shù)，且在ANSI/IES TM-21-19的指數(shù)似合函數(shù)不適用的情況下，給出了另一種邊界函數(shù)程序測(cè)試方法、數(shù)據(jù)收集和樣品數(shù)量應(yīng)根據(jù)ANSI/IES LM-80-20規(guī)定方法收集光通量維持率的測(cè)試數(shù)據(jù)；建議采用小于1000h間隔來測(cè)量光通量。測(cè)試周期宜超過6000h。

光通量維持率推算方法

推算方法包括：指數(shù)擬合函數(shù)（Exponential fit function，EFF）和邊界函數(shù)（Border function，BF），其中應(yīng)將EFF作為主要推算方法，僅當(dāng)EFF的α≤0時(shí)，使用BF推算。

如ANSI/IES TM-21-19所述，EFF方法基于如下假設(shè)，在早期光通量衰減模式結(jié)束后，可以使用曲線擬合函數(shù)來擬合和外推后續(xù)測(cè)試數(shù)據(jù)，公式如下：

f（t）=Bexp（-at）

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